体彩11选5开奖走势图

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                VeraFlex III XF ---X射線光正好彩票网前后关系電子光譜分析系統 (XPS)

                聯絡人:胡佳俊

                聯絡電話:+86-21 18918393271

                電子郵件:jeremy.hu@scientech.com.cn

                 

                VeraFlex III XF ---X射線好彩彩票光電子光譜分析系統 (XPS):
                 

                設備簡介

                1.Nova是半導體業界領先的專註於薄膜量測分析設備供應商,提供超高分辨率XPS+XRF in-line量測系統
                2.VeraFlexIII+ XF是第四代北京东方博大医院咨询超高分辨率XPS(X-Ray光電子光譜分析系統),用於超薄膜成分及厚度量測以達到薄膜工藝質量控制
                 

                應用及特點

                • 應用於控片,產品片(薄膜組分及厚度直接測量,在線工藝控制)
                • POR(業界必正好网備標準測量設備):SiON,HKMG,FinFET,DRAM,VNAND, MRAM,PCRAM
                • 超高分辨率(Sub-A),直接測6617网址导航彩票航票王量方式量測薄膜材料組分及薄膜厚度
                • 適用於90nm~5nm 任何技術節點。
                • 可同時正好彩票网使用XPS+XRF 測量不同厚度且多層薄黑龙江快乐10分开奖膜結構