2011年体彩排5走势图

  • <tr id='g681E6'><strong id='g681E6'></strong><small id='g681E6'></small><button id='g681E6'></button><li id='g681E6'><noscript id='g681E6'><big id='g681E6'></big><dt id='g681E6'></dt></noscript></li></tr><ol id='g681E6'><option id='g681E6'><table id='g681E6'><blockquote id='g681E6'><tbody id='g681E6'></tbody></blockquote></table></option></ol><u id='g681E6'></u><kbd id='g681E6'><kbd id='g681E6'></kbd></kbd>

    <code id='g681E6'><strong id='g681E6'></strong></code>

    <fieldset id='g681E6'></fieldset>
          <span id='g681E6'></span>

              <ins id='g681E6'></ins>
              <acronym id='g681E6'><em id='g681E6'></em><td id='g681E6'><div id='g681E6'></div></td></acronym><address id='g681E6'><big id='g681E6'><big id='g681E6'></big><legend id='g681E6'></legend></big></address>

              <i id='g681E6'><div id='g681E6'><ins id='g681E6'></ins></div></i>
              <i id='g681E6'></i>
            1. <dl id='g681E6'></dl>
              1. <blockquote id='g681E6'><q id='g681E6'><noscript id='g681E6'></noscript><dt id='g681E6'></dt></q></blockquote><noframes id='g681E6'><i id='g681E6'></i>
                3D顯微鏡 共聚焦顯微鏡

                產品經理:  奚丹丹

                聯絡電話:+86-21 189 1839 3337

                電子郵件:sunny.xi@scientech.com.cn

                 

                 

                產品描述

                Zeta-20臺式光學輪廓儀是非接觸式3D表面形貌黑龙江11选五最大遗漏測量系統。 該系統采用ZDot專快乐十分黑龙江利技術和Multi-Mode (多模式)光學系統,可以對各種不同的樣品進行測量:透明和不透黑龙江十一选五走势图明、由低至高的反射率、由光滑至粗糙的紋理,以及納米至毫米級別的臺階高度。

                Zeta-20的配置靈活並易於使用,並集合了六種不同的光學量測技術。ZDot測量排三组选999的前后关系模式可同時采集高分辨率3D數據和True Color(真彩)無限遠焦點圖像。其他3D測量技術包括白光幹涉測量、Nomarski幹涉對比顯微鏡和剪切幹涉測量。 ZDot或集成寬帶反射儀都可以對薄膜厚度進行測量。 Zeta-20也是一種高端顯微鏡,可用於樣品復檢或自動缺陷檢測。 Zeta-20通過提供全面的臺階高度、粗糙度和薄膜正好彩票历史前后关系网厚度的測量以及缺陷檢測功能,適用於研發及生產環境。

                Closeup of the Zeta-20

                主要功能

                • 1.采用ZDot和Multi-Mode(多模式)光學器件的簡單易用的光學輪廓儀,具有廣泛的應用
                • 2.可用於樣品復檢或缺陷檢測的高質量顯微鏡
                • 3.ZDot:同時采集高分辨率3D數據和True Color(真彩)無限遠焦點圖像
                • 4.ZXI:白光幹涉測量技術,適用於z向分辨率高的廣域測量
                • 5.ZIC:幹涉對比度,適用於亞納米級別粗糙度的表面並提供其3D定量數據
                • 6.ZSI:剪切幹涉測量技術提供z向高分辨率圖像
                • 7.ZFT:使用集成寬帶反射計測量膜厚度和反射率
                • 8.AOI:自動光學檢測,並對樣品上的缺陷進行量化
                • 9.生產能力:通過測序和圖案識別實現全自動測量
                3D graph of pads and wires

                主要應用

                • 1.臺階高度:納米到毫米級別的3D臺階高度
                • 2.紋理:平滑到非常粗糙表面的粗糙度体彩排列三历史开奖号和波紋度
                • 3.外形:3D翹曲和形狀
                • 4.應力:2D薄膜應力
                • 5.薄膜厚度:30nm到100μm透明薄膜厚度
                • 6.缺陷檢測:捕獲大於1μm的缺陷
                • 7.缺陷復檢:采用KLARF文件作為導航以測量缺陷的3D表面形貌或切割道缺陷位置
                Photo of a scientist in a lab

                工業應用

                • 1.太陽能:光伏太陽能電池
                • 2.半導體和化合物半導體
                • 3.半導體 WLCSP(晶圓級芯片級封裝)
                • 4.半導體FOWLP(扇出晶圓級封裝)
                • 5.PCB和柔性PCB
                • 6.MEMS(微機電系統)
                • 7.醫療設備和微流體設備
                • 8.數據存儲
                • 9.大學,研究實驗室和研究所爱购彩票网址
                • 10.還有更多:請我們聯系以滿足您的要求

                3D image of etched pillars